Opinion d'expert: Analyse des propriétés des nanomatériaux à l'aide d'un microscope électronique

«» « ». . , , , , , - « » «», .. . (80)

. , .. , , , , , . , . , . . , , -, , , , . , - , GT. « », .


/ - «» — .. «»

,
,
- « » «»
, , , , . , , , ,   - . , / / . , , . , , . - .

in situ () , [1-3]. , , , , , , , - () - / , .

, , 1. , , , . ( «Nanofactory Instruments AB», ) JEOL JEM-3100FEF ( ) 0,17 . 300 (EDX) / .

. (250 ) . . , ; . - - ( , ~ 15 nm Pt). , . .



1. JEOL JEM-3100FEF ( ) TM , , , - .

, - , , , , X, Y Z, 1 . , - . . , , , . - ( , ) ± 140 . MEMS, . - MEMS . , 405, 488, 638, 808 , , .

, 1D , , , , 2D- - . . - [1,4-7]. ~ 2000oC - , , - / [8,9]. (MoS2) , [10]. , - , . , — MoS2 — 0,11 / . , , , , - [11,12].

, , , , .

:
[1] Golberg D. et al. Nano Lett. 7, 2146 (2007).

[2] Golberg D. et al. Adv. Mater. 19, 1937 (2007).

[3] Golberg D.et al.Adv. Mater. 24, 177 (2012).

[4] Wang M.S., Golberg D. et al. Adv. Mater. 22, 4071 (2010).

[5] Wei X.L., Wang M.S., Bando Y., Golberg D. Adv. Mater. 22, 4895 (2010).

[6] Tang D.M., Golberg D. et al. Nano Lett. 12, 1898 (2012).

[7] Wei X.L., Xiao S., Li F., Tang D.M., Chen Q., Bando Y., Golberg D. Nano Lett. 15, 689 (2015).

[8] Costa P.M.F.J., Gautam U.K., Bando Y., Golberg D. Nature Commun. 2, 4121 (2011).

[9] Tang D.M., Golberg D. et al. Nano Lett. (2015), submitted for publication.

[10] Tang D.M., Golberg D. et al. Nature Commun. 5, 3631 (2014).

[11] Zhang C., Golberg D. et al. Nanotechnology26, 154001 (2015).

[12] Zhang C., Xu Z., Golberg D. et al. Appl. Phys. Lett. 107, 051735 (2015).

Source: https://habr.com/ru/post/fr387467/


All Articles