लिनक्स पर एसएसडी स्थिति की निगरानी और जांच

फिर से नमस्कार। लिनक्स प्रशासक पाठ्यक्रम पर छात्रों के लिए विशेष रूप से निम्नलिखित लेख का अनुवाद तैयार किया गया है। चलो चलते हैं!

स्मार्ट क्या है?

स्मार्ट (स्व-निगरानी, ​​विश्लेषण और रिपोर्टिंग प्रौद्योगिकी के लिए खड़ा है) हार्ड ड्राइव या एसएसडी जैसे ड्राइव में एम्बेडेड तकनीक है। इसका मुख्य कार्य स्थिति की निगरानी करना है।

वास्तव में, SMART सामान्य डिस्क संचालन के दौरान कई मापदंडों को नियंत्रित करता है। यह ऐसे मापदंडों को मॉनिटर करता है जैसे कि रीड एरर, डिस्क स्टार्टअप टाइम और यहां तक ​​कि पर्यावरण की स्थिति। इसके अलावा, SMART ड्राइव का उपयोग करके परीक्षण भी चला सकता है।

आदर्श रूप से, SMART पूर्वानुमानित विफलताओं का अनुमान लगाएगा, जैसे कि यांत्रिक पहनने या डिस्क की सतह के बिगड़ने के साथ-साथ किसी भी अप्रत्याशित दोष के कारण अप्रत्याशित असफलताएं। चूंकि डिस्क आमतौर पर अचानक विफल नहीं होती हैं, SMART ऑपरेटिंग सिस्टम या सिस्टम व्यवस्थापक को उन डिस्क की पहचान करने में मदद करता है जो जल्द ही विफल हो जाएंगे ताकि उन्हें बदला जा सके और डेटा हानि से बचा जा सके।

स्मार्ट पर क्या लागू नहीं होता है?

यह सब, ज़ाहिर है, अच्छा है। हालाँकि, SMART एक क्रिस्टल बॉल नहीं है। वह पूर्ण संभावना के साथ विफलता की भविष्यवाणी नहीं कर सकता है और यह गारंटी नहीं दे सकता है कि ड्राइव चेतावनी के बिना विफल नहीं होगी। सबसे अच्छे मामले में, SMART का उपयोग टूटने की संभावना का आकलन करने के लिए किया जाना चाहिए।

असफलता के पूर्वानुमान की सांख्यिकीय प्रकृति को देखते हुए, SMART तकनीक विशेष रूप से उन कंपनियों में रुचि रखती है जो बड़ी संख्या में भंडारण उपकरणों का उपयोग करती हैं। यह पता लगाने के लिए कि SMART विफलताओं का सटीक अनुमान कैसे लगा सकता है और डेटा केंद्रों या सर्वर मेनफ्रेम में डिस्क को बदलने की आवश्यकता की रिपोर्ट कर सकता है, यहां तक ​​कि विशेष अध्ययन भी आयोजित किए गए हैं।

2016 में, Microsoft और पेंसिल्वेनिया विश्वविद्यालय ने SSDs से संबंधित एक अध्ययन किया।

इस अध्ययन के अनुसार, कुछ SMART विशेषताओं को विफलता की अनिवार्यता का अच्छा संकेतक माना जाता है। विशेष रूप से, लेख में उल्लेख किया गया है:

Realloc क्षेत्र काउंटर :

इस तथ्य के बावजूद कि अंतर्निहित प्रौद्योगिकियां मौलिक रूप से भिन्न हैं, एसएसडी की दुनिया में और हार्ड ड्राइव की दुनिया में यह सूचक मांग में रहता है। यह ध्यान देने योग्य है कि SSDs में उपयोग किए जाने वाले वियर बैलेंसिंग एल्गोरिदम की विशेषताओं के कारण, जब कई सेक्टर विफल हो जाते हैं, तो उच्च संभावना के साथ हम यह मान सकते हैं कि और भी जल्द ही विफल हो जाएगा।

कार्यक्रम में त्रुटियां / मिटा (पी / ई) लूप:

यह मुख्य फ्लैश मेमोरी उपकरण के साथ समस्याओं का संकेत है जो इस तथ्य से संबंधित है कि डिस्क ब्लॉक से डेटा को हटा नहीं सकती है या इसे वहां नहीं बचा सकती है। तथ्य यह है कि उत्पादन प्रक्रिया अपूर्ण है, इसलिए ऐसी त्रुटियों की उपस्थिति की उम्मीद की जा सकती है। हालाँकि, फ़्लैश मेमोरी में सीमित संख्या में लिखने / हटाने वाले चक्र होते हैं। इस कारण से, घटनाओं की संख्या में अचानक वृद्धि संकेत दे सकती है कि डिस्क अपनी सीमा तक पहुंच रही है, और यह उम्मीद की जाती है कि अन्य मेमोरी सेल भी विफल होने लगेंगे।

CRC और घातक त्रुटियां ("डेटा त्रुटि"):

इस प्रकार की घटनाएँ भंडारण त्रुटियों या ड्राइव के आंतरिक संचार चैनल के साथ समस्याओं के कारण हो सकती हैं। यह संकेतक दोनों सही त्रुटियों (बिना किसी समस्या के होस्ट सिस्टम को रिपोर्ट किया गया) और बिना किसी त्रुटी के त्रुटियों को ध्यान में रखता है (जिसके कारण डिस्क लॉक होता है, जिसने होस्ट सिस्टम को पढ़ने की असंभवता के बारे में सूचित किया था)। दूसरे शब्दों में, सही त्रुटियां ऑपरेटिंग सिस्टम के लिए अदृश्य हैं, हालांकि, वे ड्राइव के प्रदर्शन को प्रभावित करते हैं, जिससे सेक्टर को आश्वस्त करने की संभावना बढ़ जाती है।

SATA डाउनशिफ्ट गणना:

अस्थायी हस्तक्षेप के कारण, ड्राइव और होस्ट के बीच संचार चैनल के साथ समस्याएं, या ड्राइव के साथ आंतरिक समस्याओं के कारण, SATA इंटरफ़ेस कम सिग्नल ट्रांसमिशन गति पर स्विच हो सकता है। नाममात्र स्तर के नीचे कनेक्शन की गति को कम करने से डिस्क प्रदर्शन पर एक स्पष्ट प्रभाव पड़ता है। इस प्रकार, यह संकेतक सबसे महत्वपूर्ण है, खासकर जब यह एक या एक से अधिक पिछले संकेतकों की उपस्थिति के साथ संबंध रखता है।

अध्ययन के अनुसार, असफल एसएसडी के 62% ने उपरोक्त लक्षणों में से कम से कम एक की उपस्थिति को दिखाया। दूसरी ओर, हम कह सकते हैं कि 38% अध्ययन किए गए ड्राइव इन लक्षणों के संकेत के बिना विफल रहे। अध्ययनों में यह उल्लेख नहीं किया गया था कि क्या अन्य "लक्षणों" के लिए स्मार्ट की अस्वीकृति की कोई अन्य रिपोर्ट थी। इस कारण से, आप Google के एक लेख के 36% मामलों में चेतावनी के बिना इन मूल्यों को सीधे विफलता के साथ नहीं जोड़ सकते हैं।

माइक्रोसॉफ्ट और पेंसिल्वेनिया विश्वविद्यालय के एक अध्ययन ने अध्ययन किए गए डिस्क के मॉडल का खुलासा नहीं किया, हालांकि, लेखकों के अनुसार, अधिकांश डिस्क कई पीढ़ियों के लिए एक ही आपूर्तिकर्ता से आते हैं।

अध्ययन ने विभिन्न मॉडलों के बीच विश्वसनीयता में महत्वपूर्ण अंतर को भी नोट किया। उदाहरण के लिए, अध्ययन किया गया "सबसे खराब" मॉडल पहले पुनर्निर्धारण की त्रुटि के 9 महीने बाद और डेटा त्रुटियों की पहली घटना के बाद 9 महीनों के भीतर 36 प्रतिशत तक विफलताओं को दिखाता है। "सबसे खराब" मॉडल को लेख में विचार की जाने वाली डिस्क की पुरानी पीढ़ी कहा जाता था।

दूसरी ओर, उपरोक्त लक्षणों के समान लक्षणों के साथ, ड्राइव की नई पीढ़ी समान त्रुटियों के अनुसार 3% और 20% पर विफल रही। यह कहना मुश्किल है कि क्या इन आंकड़ों को ड्राइव के डिजाइन और उत्पादन प्रक्रिया में सुधार के द्वारा समझाया जा सकता है, या क्या अप्रचलन का प्रभाव यहां एक भूमिका निभाता है।

सबसे दिलचस्प बात जो लेख में उल्लिखित है (मैंने इस बारे में पहले लिखा था) यह है कि पंजीकृत त्रुटियों की संख्या में वृद्धि एक खतरनाक संकेतक के रूप में हो सकती है:

"एसएसडी की विफलता से पहले लक्षणों की एक उच्च संभावना है, जो सक्रिय रूप से खुद को प्रकट करते हैं और तेजी से प्रगति करते हैं, ड्राइव के जीवनकाल को कई महीनों तक कम करते हैं।"

दूसरे शब्दों में, SMART द्वारा रिपोर्ट की गई एक यादृच्छिक त्रुटि निश्चित रूप से आसन्न विफलता का संकेत नहीं माना जाना चाहिए। हालांकि, जब एक स्वस्थ एसएसडी अधिक से अधिक त्रुटियों की रिपोर्ट करना शुरू कर देता है, तो आपको एक छोटी या मध्यम अवधि की विफलता की उम्मीद करनी चाहिए।

लेकिन आप कैसे जानते हैं कि आपका एसएसडी अब किस राज्य में है? अपनी जिज्ञासा को संतुष्ट करने के लिए, या अपनी ड्राइव की बारीकी से निगरानी शुरू करने की इच्छा से, आप smartctl निगरानी smartctl उपयोग कर सकते हैं।

लिनक्स पर अपने SSD की स्थिति की निगरानी के लिए smartctl का उपयोग करना

आपके ड्राइव की स्मार्ट स्थिति की निगरानी करने के लिए, मैं सुझाव देता हूं कि smartctl टूल का उपयोग करें, जो smartmontool पैकेज का हिस्सा है (कम से कम डेबियन / उबंटू पर)।

 sudo apt install smartmontools 

smartctl एक कमांड लाइन उपकरण है , लेकिन यह विशेष रूप से उन मामलों में मदद करता है जहां आपको डेटा संग्रह को स्वचालित करने की आवश्यकता होती है, उदाहरण के लिए, अपने सर्वर से।

smartctl का उपयोग करने के लिए पहला कदम यह देखना है कि आपकी ड्राइव में स्मार्ट है और उपकरण द्वारा समर्थित है:

 sh$ sudo smartctl -i /dev/sdb smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF INFORMATION SECTION === Model Family: Seagate Momentus 7200.4 Device Model: ST9500420AS Serial Number: 5VJAS7FL LU WWN Device Id: 5 000c50 02fa0b800 Firmware Version: D005SDM1 User Capacity: 500,107,862,016 bytes [500 GB] Sector Size: 512 bytes logical/physical Rotation Rate: 7200 rpm Device is: In smartctl database [for details use: -P show] ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 4 SATA Version is: SATA 2.6, 3.0 Gb/s Local Time is: Mon Mar 12 15:54:43 2018 CET SMART support is: Available - device has SMART capability. SMART support is: Enabled 

जैसा कि आप देख सकते हैं, मेरे लैपटॉप की आंतरिक हार्ड ड्राइव वास्तव में स्मार्ट का समर्थन करती है और यह चालू है। तो, अब स्मार्ट स्थिति कैसे प्राप्त करें? क्या कोई निश्चित त्रुटियां हैं?

"सभी स्मार्ट डिस्क जानकारी के बारे में" रिपोर्टिंग -a विकल्प है:

 sh$ sudo smartctl -i -a /dev/sdb smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF INFORMATION SECTION === Model Family: Seagate Momentus 7200.4 Device Model: ST9500420AS Serial Number: 5VJAS7FL LU WWN Device Id: 5 000c50 02fa0b800 Firmware Version: D005SDM1 User Capacity: 500,107,862,016 bytes [500 GB] Sector Size: 512 bytes logical/physical Rotation Rate: 7200 rpm Device is: In smartctl database [for details use: -P show] ATA Version is: ATA8-ACS T13/1699-D revision 4 SATA Version is: SATA 2.6, 3.0 Gb/s Local Time is: Mon Mar 12 15:56:58 2018 CET SMART support is: Available - device has SMART capability. SMART support is: Enabled === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART overall-health self-assessment test result: PASSED See vendor-specific Attribute list for marginal Attributes. General SMART Values: Offline data collection status: (0x82) Offline data collection activity was completed without error. Auto Offline Data Collection: Enabled. Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed without error or no self-test has ever been run. Total time to complete Offline data collection: ( 0) seconds. Offline data collection capabilities: (0x7b) SMART execute Offline immediate. Auto Offline data collection on/off support. Suspend Offline collection upon new command. Offline surface scan supported. Self-test supported. Conveyance Self-test supported. Selective Self-test supported. SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering power-saving mode. Supports SMART auto save timer. Error logging capability: (0x01) Error logging supported. General Purpose Logging supported. Short self-test routine recommended polling time: ( 2) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: ( 110) minutes. Conveyance self-test routine recommended polling time: ( 3) minutes. SCT capabilities: (0x103f) SCT Status supported. SCT Error Recovery Control supported. SCT Feature Control supported. SCT Data Table supported. SMART Attributes Data Structure revision number: 10 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x000f 111 099 006 Pre-fail Always - 29694249 3 Spin_Up_Time 0x0003 100 098 085 Pre-fail Always - 0 4 Start_Stop_Count 0x0032 095 095 020 Old_age Always - 5413 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 036 Pre-fail Always - 3 7 Seek_Error_Rate 0x000f 071 060 030 Pre-fail Always - 51710773327 9 Power_On_Hours 0x0032 070 070 000 Old_age Always - 26423 10 Spin_Retry_Count 0x0013 100 100 097 Pre-fail Always - 0 12 Power_Cycle_Count 0x0032 096 037 020 Old_age Always - 4836 184 End-to-End_Error 0x0032 100 100 099 Old_age Always - 0 187 Reported_Uncorrect 0x0032 072 072 000 Old_age Always - 28 188 Command_Timeout 0x0032 100 096 000 Old_age Always - 4295033738 189 High_Fly_Writes 0x003a 100 100 000 Old_age Always - 0 190 Airflow_Temperature_Cel 0x0022 056 042 045 Old_age Always In_the_past 44 (Min/Max 21/44 #22) 191 G-Sense_Error_Rate 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 184 192 Power-Off_Retract_Count 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 104 193 Load_Cycle_Count 0x0032 001 001 000 Old_age Always - 395415 194 Temperature_Celsius 0x0022 044 058 000 Old_age Always - 44 (0 13 0 0 0) 195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 050 045 000 Old_age Always - 29694249 197 Current_Pending_Sector 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 1 198 Offline_Uncorrectable 0x0010 100 100 000 Old_age Offline - 1 199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 200 200 000 Old_age Always - 0 240 Head_Flying_Hours 0x0000 100 253 000 Old_age Offline - 25131 (246 202 0) 241 Total_LBAs_Written 0x0000 100 253 000 Old_age Offline - 3028413736 242 Total_LBAs_Read 0x0000 100 253 000 Old_age Offline - 1613088055 254 Free_Fall_Sensor 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0 SMART Error Log Version: 1 ATA Error Count: 3 CR = Command Register [HEX] FR = Features Register [HEX] SC = Sector Count Register [HEX] SN = Sector Number Register [HEX] CL = Cylinder Low Register [HEX] CH = Cylinder High Register [HEX] DH = Device/Head Register [HEX] DC = Device Command Register [HEX] ER = Error register [HEX] ST = Status register [HEX] Powered_Up_Time is measured from power on, and printed as DDd+hh:mm:SS.sss where DD=days, hh=hours, mm=minutes, SS=sec, and sss=millisec. It "wraps" after 49.710 days. Error 3 occurred at disk power-on lifetime: 21171 hours (882 days + 3 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 40 51 00 ff ff ff 0f Error: UNC at LBA = 0x0fffffff = 268435455 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 60 00 08 ff ff ff 4f 00 00:45:12.580 READ FPDMA QUEUED 60 00 08 ff ff ff 4f 00 00:45:12.580 READ FPDMA QUEUED 60 00 08 ff ff ff 4f 00 00:45:12.579 READ FPDMA QUEUED 60 00 08 ff ff ff 4f 00 00:45:12.571 READ FPDMA QUEUED 60 00 20 ff ff ff 4f 00 00:45:12.543 READ FPDMA QUEUED Error 2 occurred at disk power-on lifetime: 21171 hours (882 days + 3 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 40 51 00 ff ff ff 0f Error: UNC at LBA = 0x0fffffff = 268435455 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 60 00 00 ff ff ff 4f 00 00:45:09.456 READ FPDMA QUEUED 60 00 00 ff ff ff 4f 00 00:45:09.451 READ FPDMA QUEUED 61 00 08 ff ff ff 4f 00 00:45:09.450 WRITE FPDMA QUEUED 60 00 00 ff ff ff 4f 00 00:45:08.878 READ FPDMA QUEUED 60 00 00 ff ff ff 4f 00 00:45:08.856 READ FPDMA QUEUED Error 1 occurred at disk power-on lifetime: 21131 hours (880 days + 11 hours) When the command that caused the error occurred, the device was active or idle. After command completion occurred, registers were: ER ST SC SN CL CH DH -- -- -- -- -- -- -- 40 51 00 ff ff ff 0f Error: UNC at LBA = 0x0fffffff = 268435455 Commands leading to the command that caused the error were: CR FR SC SN CL CH DH DC Powered_Up_Time Command/Feature_Name -- -- -- -- -- -- -- -- ---------------- -------------------- 60 00 00 ff ff ff 4f 00 05:52:18.809 READ FPDMA QUEUED 61 00 00 7e fb 31 45 00 05:52:18.806 WRITE FPDMA QUEUED 60 00 00 ff ff ff 4f 00 05:52:18.571 READ FPDMA QUEUED ea 00 00 00 00 00 a0 00 05:52:18.529 FLUSH CACHE EXT 61 00 08 ff ff ff 4f 00 05:52:18.527 WRITE FPDMA QUEUED SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Short offline Completed without error 00% 10904 - # 2 Short offline Completed without error 00% 12 - # 3 Short offline Completed without error 00% 0 - SMART Selective self-test log data structure revision number 1 SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS 1 0 0 Not_testing 2 0 0 Not_testing 3 0 0 Not_testing 4 0 0 Not_testing 5 0 0 Not_testing Selective self-test flags (0x0): After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk. If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay. 

smartctl कमांड के आउटपुट को समझना

आउटपुट बहुत सारी जानकारी है जिसे समझना हमेशा आसान नहीं होता है। सबसे दिलचस्प हिस्सा संभवतः "थ्रेसहोल्ड के साथ विक्रेता विशिष्ट स्मार्ट विशेषताएँ" लेबल वाला हिस्सा है। यह स्मार्ट डिवाइस द्वारा एकत्र किए गए विभिन्न आंकड़ों की रिपोर्ट करता है और आपको आपूर्तिकर्ता द्वारा परिभाषित एक निश्चित सीमा के साथ इन मूल्यों (वर्तमान या हर समय के लिए सबसे खराब) की तुलना करने की अनुमति देता है।

उदाहरण के लिए, यहां डिस्क पर पुन: असाइन किए गए क्षेत्रों की मेरी रिपोर्टें हैं:

 ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 036 Pre-fail Always - 3 

आप "पूर्व-विफल" विशेषता देख सकते हैं। इसका मतलब है कि मूल्य असामान्य है। इस प्रकार, यदि मूल्य सीमा से अधिक है, तो विफलता की संभावना अधिक है। "Old_age" की एक और श्रेणी का उपयोग उन विशेषताओं के लिए किया जाता है जो "सामान्य पहनने" के मूल्यों के अनुरूप हैं।

अंतिम फ़ील्ड ("3" के मान के साथ) मूल विशेषता मान से मेल खाती है जो ड्राइव रिपोर्ट करती है। आमतौर पर इस संख्या का एक भौतिक अर्थ होता है। यहां पुन: असाइन किए गए क्षेत्रों की वास्तविक संख्या है। अन्य विशेषताओं के लिए, यह डिग्री सेल्सियस में तापमान, घंटों या मिनटों में समय या किसी डिस्क के लिए एक निश्चित स्थिति से मिलने वाले समय की संख्या हो सकती है।

प्रारंभिक मूल्य के अलावा, एक स्मार्ट-सक्षम ड्राइव को "सामान्यीकृत मान" (फ़ील्ड मान, सबसे खराब और सीमा) की रिपोर्ट करनी चाहिए। ये मान 1-254 (थ्रेसहोल्ड मान के लिए 0-255) की सीमा में सामान्यीकृत होते हैं। डिस्क का फर्मवेयर कुछ आंतरिक एल्गोरिथ्म का उपयोग करके इस सामान्यीकरण को करता है। इसके अलावा, विभिन्न निर्माता अलग-अलग तरीकों से एक ही विशेषता को सामान्य कर सकते हैं। अधिकांश मूल्य प्रतिशत के रूप में प्रस्तुत किए जाते हैं, और उच्चतर बेहतर होते हैं, लेकिन यह हमेशा ऐसा नहीं होता है। जब पैरामीटर निर्माता द्वारा निर्दिष्ट थ्रेशोल्ड मान से कम या बराबर होता है, तो इस विशेषता के संदर्भ में डिस्क को दोषपूर्ण माना जाता है। लेख के पहले भाग से सभी निर्देशों को ध्यान में रखते हुए, जब "पूर्व-विफल" मान दिखाने वाली विशेषता अभी भी विफल रही है, तो सबसे अधिक संभावना है कि डिस्क जल्द ही विफल हो जाएगी।

दूसरे उदाहरण के रूप में, "त्रुटि दर की तलाश करें" :

 ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 7 Seek_Error_Rate 0x000f 071 060 030 Pre-fail Always - 51710773327 

वास्तव में (और यह SMART रिपोर्टिंग की मुख्य समस्या है), केवल प्रदाता प्रत्येक विशेषता के क्षेत्रों का सही मूल्य समझता है। मेरे मामले में, सीगेट मूल्य को सामान्य करने के लिए एक लघुगणकीय पैमाने का उपयोग करता है। इस प्रकार, "71" का अर्थ है प्रति 10 मिलियन अनुरोधों में लगभग एक त्रुटि (10 से 7.1 की शक्ति)। यह हास्यास्पद है कि सभी समय का सबसे खराब संकेतक 1 मिलियन अनुरोधों (10 से 6 वीं डिग्री) के लिए एक त्रुटि था।

अगर मैं सही तरीके से समझूं, तो इसका मतलब है कि मेरी डिस्क के प्रमुख अब पहले की तुलना में अधिक सटीक रूप से स्थित हैं। मैंने इस डिस्क की बारीकी से निगरानी नहीं की, इसलिए मैं बहुत विषयवस्तु प्राप्त आंकड़ों का विश्लेषण करता हूं। शायद इस अभियान को चलाने के लिए बस थोड़ी देर के लिए "ड्राइव" करना पड़ा? या शायद यह भागों के यांत्रिक पहनने का परिणाम है और इसलिए, अब कम घर्षण होता है? किसी भी मामले में, जो भी कारण हो, यह मान त्रुटि की प्रारंभिक चेतावनी की तुलना में प्रदर्शन का एक उपाय है। तो यह मुझे ज्यादा परेशान नहीं करता है।

लगभग छह महीने पहले दर्ज की गई उपरोक्त और तीन बेहद संदिग्ध त्रुटियों के अलावा, यह डिस्क लैपटॉप के स्टॉक डिस्क के लिए आश्चर्यजनक रूप से अच्छी स्थिति (SMART के अनुसार) में है, जिसने 1100 से अधिक दिनों (26423 घंटे) के लिए काम किया था।

 ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 9 Power_On_Hours 0x0032 070 070 000 Old_age Always - 26423 

जिज्ञासा से बाहर, मैंने SSD से लैस एक बहुत नए लैपटॉप पर एक ही परीक्षण किया:

 sh$ sudo smartctl -i /dev/sdb smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.10.0-32-generic] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF INFORMATION SECTION === Device Model: TOSHIBA THNSNK256GVN8 Serial Number: 17FS131LTNLV LU WWN Device Id: 5 00080d 9109b2ceb Firmware Version: K8XA4103 User Capacity: 256 060 514 304 bytes [256 GB] Sector Sizes: 512 bytes logical, 4096 bytes physical Rotation Rate: Solid State Device Form Factor: M.2 Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall] ATA Version is: ACS-3 (minor revision not indicated) SATA Version is: SATA 3.2, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s) Local Time is: Tue Mar 13 01:03:23 2018 CET SMART support is: Available - device has SMART capability. SMART support is: Enabled 

आपकी आंख को पकड़ने वाली पहली बात यह है कि स्मार्ट की उपस्थिति के बावजूद, डिवाइस smartctl डेटाबेस में नहीं है। लेकिन यह टूल को SSD से डेटा एकत्र करने से नहीं रोकेगा, हालांकि, यह प्रदाता के लिए विशिष्ट विभिन्न विशेषताओं के सटीक मूल्यों की रिपोर्ट करने में सक्षम नहीं होगा:

 sh$ sudo smartctl -a /dev/sdb smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.10.0-32-generic] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART overall-health self-assessment test result: PASSED General SMART Values: Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity was never started. Auto Offline Data Collection: Disabled. Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed without error or no self-test has ever been run. Total time to complete Offline data collection: ( 120) seconds. Offline data collection capabilities: (0x5b) SMART execute Offline immediate. Auto Offline data collection on/off support. Suspend Offline collection upon new command. Offline surface scan supported. Self-test supported. No Conveyance Self-test supported. Selective Self-test supported. SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering power-saving mode. Supports SMART auto save timer. Error logging capability: (0x01) Error logging supported. General Purpose Logging supported. Short self-test routine recommended polling time: ( 2) minutes. Extended self-test routine recommended polling time: ( 11) minutes. SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported. SCT Error Recovery Control supported. SCT Feature Control supported. SCT Data Table supported. SMART Attributes Data Structure revision number: 16 Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds: ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE 1 Raw_Read_Error_Rate 0x000a 100 100 000 Old_age Always - 0 2 Throughput_Performance 0x0005 100 100 050 Pre-fail Offline - 0 3 Spin_Up_Time 0x0007 100 100 050 Pre-fail Always - 0 5 Reallocated_Sector_Ct 0x0013 100 100 050 Pre-fail Always - 0 7 Unknown_SSD_Attribute 0x000b 100 100 050 Pre-fail Always - 0 8 Unknown_SSD_Attribute 0x0005 100 100 050 Pre-fail Offline - 0 9 Power_On_Hours 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 171 10 Unknown_SSD_Attribute 0x0013 100 100 050 Pre-fail Always - 0 12 Power_Cycle_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 105 166 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0 167 Unknown_Attribute 0x0022 100 100 000 Old_age Always - 0 168 Unknown_Attribute 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0 169 Unknown_Attribute 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 100 170 Unknown_Attribute 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0 173 Unknown_Attribute 0x0012 200 200 000 Old_age Always - 0 175 Program_Fail_Count_Chip 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0 192 Power-Off_Retract_Count 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 18 194 Temperature_Celsius 0x0023 063 032 020 Pre-fail Always - 37 (Min/Max 11/68) 197 Current_Pending_Sector 0x0012 100 100 000 Old_age Always - 0 240 Unknown_SSD_Attribute 0x0013 100 100 050 Pre-fail Always - 0 SMART Error Log Version: 1 No Errors Logged SMART Self-test log structure revision number 1 No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t] SMART Selective self-test log data structure revision number 1 SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS 1 0 0 Not_testing 2 0 0 Not_testing 3 0 0 Not_testing 4 0 0 Not_testing 5 0 0 Not_testing Selective self-test flags (0x0): After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk. If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay. 

ऊपर आप एक नया SSD का आउटपुट देखते हैं। डेटा किसी विशेष प्रदाता के डेटा के लिए सामान्यीकरण या मेटा-जानकारी की अनुपस्थिति में भी समझा जा सकता है, जैसा कि मेरे मामले में "अज्ञात_एसएसडी_अवधि" के साथ है । मैं केवल आशा कर सकता हूं कि smartctl भविष्य के संस्करणों में डेटाबेस में इस ड्राइव मॉडल पर डेटा होगा, और मैं संभावित समस्याओं की बेहतर पहचान कर सकता हूं।

स्मार्टक्टेल के साथ लिनक्स पर अपने एसएसडी का परीक्षण करें

अब तक, हमने सामान्य ड्राइव ऑपरेशन के दौरान एकत्र किए गए डेटा की समीक्षा की है। हालाँकि, SMART प्रोटोकॉल ऑन-डिमांड डायग्नोस्टिक्स को चलाने के लिए ऑफ़लाइन परीक्षण के लिए कई आदेशों का भी समर्थन करता है।

ऑफ़लाइन परीक्षण सामान्य डिस्क संचालन के दौरान किया जा सकता है, जब तक कि अन्यथा निर्दिष्ट न हो। क्योंकि परीक्षण और होस्ट I / O अनुरोध प्रतिस्पर्धा करेंगे, परीक्षण के दौरान डिस्क प्रदर्शन बंद हो जाएगा। स्मार्ट विनिर्देश कई प्रकार के स्टैंड-अलोन परीक्षण को परिभाषित करता है:

लघु स्टैंड-अलोन परीक्षण ( -t short )
ऐसा परीक्षण विद्युत और यांत्रिक प्रदर्शन की जांच करेगा, साथ ही डिस्क रीड प्रदर्शन भी होगा। लघु स्वायत्त परीक्षण में आमतौर पर केवल कुछ मिनट (आमतौर पर 2 से 10) लगते हैं।

विस्तारित स्टैंडअलोन परीक्षण ( -t long )
इस टेस्ट में लगभग दोगुना समय लगता है। यह आमतौर पर एक लघु स्टैंडअलोन परीक्षण का सिर्फ एक अधिक विस्तृत संस्करण है। इसके अलावा, यह परीक्षण बिना समय सीमा के डेटा त्रुटियों के लिए डिस्क की पूरी सतह को स्कैन करेगा। परीक्षण की अवधि डिस्क के आकार के आनुपातिक होगी।

स्टैंडअलोन शिपिंग परीक्षण ( -t conveyance )
यह परीक्षण किट डिवाइस के परिवहन के दौरान होने वाले संभावित नुकसान की जांच करने के लिए एक अपेक्षाकृत त्वरित तरीका के रूप में प्रस्तावित है।

यहां उन्हीं ड्राइव से उदाहरण लिए गए हैं जो ऊपर थीं। मेरा सुझाव है कि आपको लगता है कि कौन सा कहां है:

 sh$ sudo smartctl -t short /dev/sdb smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.10.0-32-generic] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION === Sending command: "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode". Drive command "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode" successful. Testing has begun. Please wait 2 minutes for test to complete. Test will complete after Mon Mar 12 18:06:17 2018 Use smartctl -X to abort test. 

एक जांच जारी है। चलो परिणाम देखने के लिए पूरा होने की प्रतीक्षा करें:

 sh$ sudo sh -c 'sleep 120 && smartctl -l selftest /dev/sdb' smartctl 6.5 2016-01-24 r4214 [x86_64-linux-4.10.0-32-generic] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Short offline Completed without error 00% 171 - 

चलिए एक ही टेस्ट को दूसरे ड्राइव पर चलाते हैं:

 sh$ sudo smartctl -t short /dev/sdb smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION === Sending command: "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode". Drive command "Execute SMART Short self-test routine immediately in off-line mode" successful. Testing has begun. Please wait 2 minutes for test to complete. Test will complete after Mon Mar 12 21:59:39 2018 Use smartctl -X to abort test. 

और फिर, हम इसे दो मिनट के लिए सोने और परिणाम देखने के लिए भेजेंगे:

 sh$ sudo sh -c 'sleep 120 && smartctl -l selftest /dev/sdb' smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Short offline Completed without error 00% 26429 - # 2 Short offline Completed without error 00% 10904 - # 3 Short offline Completed without error 00% 12 - # 4 Short offline Completed without error 00% 0 - 

दिलचस्प बात यह है कि इस मामले में हम देखते हैं कि डिस्क और कंप्यूटर के निर्माता पहले ही डिस्क का परीक्षण कर चुके हैं (0 घंटे और 12 घंटे के जीवन समय पर)। मैं खुद ड्राइव की स्थिति के बारे में निश्चित रूप से बहुत कम चिंतित था जितना कि वे हैं। इसलिए, चूंकि मैंने पहले से ही त्वरित परीक्षण दिखाए थे, इसलिए मैं यह देखने के लिए उन्नत एक भी चलाऊंगा कि यह कैसे होता है।

 sh$ sudo smartctl -t long /dev/sdb smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION === Sending command: "Execute SMART Extended self-test routine immediately in off-line mode". Drive command "Execute SMART Extended self-test routine immediately in off-line mode" successful. Testing has begun. Please wait 110 minutes for test to complete. Test will complete after Tue Mar 13 00:09:08 2018 Use smartctl -X to abort test. 

जाहिर है, इस बार शॉर्ट टेस्ट के दौरान इंतजार करने में ज्यादा समय लगेगा। तो आइये देखते हैं:

 sh$ sudo bash -c 'sleep $((110*60)) && smartctl -l selftest /dev/sdb' [sudo] password for sylvain: smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Extended offline Completed: read failure 20% 26430 810665229 # 2 Short offline Completed without error 00% 26429 - # 3 Short offline Completed without error 00% 10904 - # 4 Short offline Completed without error 00% 12 - # 5 Short offline Completed without error 00% 0 - 

अंतिम परीक्षण में, लघु और विस्तारित परीक्षणों का उपयोग करके प्राप्त परिणामों में अंतर पर ध्यान दें, भले ही वे एक के बाद एक किए गए हों। खैर, शायद यह ड्राइव इतनी अच्छी स्थिति में नहीं है! मैं ध्यान देता हूं कि पहली पढ़ने की त्रुटि के बाद परीक्षण बंद हो गया। इसलिए, यदि आप सभी पढ़ने की त्रुटियों के बारे में व्यापक जानकारी प्राप्त करना चाहते हैं, तो आपको प्रत्येक त्रुटि के बाद परीक्षण जारी रखना होगा। मैं आपसे आग्रह करता हूं कि यह करने में सक्षम होने के लिए -t select , N-max और -t select बारे में अधिक जानकारी के लिए एक बहुत अच्छी तरह से लिखे गए स्मार्टक्ट्ल (8) मैनुअल पेज पर एक नज़र डालें:

 sh$ sudo smartctl -t select,810665230-max /dev/sdb smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF OFFLINE IMMEDIATE AND SELF-TEST SECTION === Sending command: "Execute SMART Selective self-test routine immediately in off-line mode". SPAN STARTING_LBA ENDING_LBA 0 810665230 976773167 Drive command "Execute SMART Selective self-test routine immediately in off-line mode" successful. Testing has begun. 

 smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.9.0-6-amd64] (local build) Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org === START OF READ SMART DATA SECTION === SMART Self-test log structure revision number 1 Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error # 1 Selective offline Completed without error 00% 26432 - # 2 Extended offline Completed: read failure 20% 26430 810665229 # 3 Short offline Completed without error 00% 26429 - # 4 Short offline Completed without error 00% 10904 - # 5 Short offline Completed without error 00% 12 - # 6 Short offline Completed without error 00% 0 - 

निष्कर्ष

निश्चित रूप से, SMART वास्तव में वह तकनीक है जिसे आपके सर्वर ड्राइव के स्वास्थ्य की निगरानी के लिए आपके टूलकिट में जोड़ा जाना चाहिए। SMART Disk Monitoring Daemon smartd(8) , .

, , SMART . , , – , , . , RAID !

, !